Кіріспе
Материалдардың құрылымы мен қасиеттерін зерттеу Материалдарды сипаттау материалы ғылымда қолданылатын кезде материалдың құрылымы мен қасиеттері тексеріліп, өлшенетін кең және жалпы процесті білдіреді. Бұл материалдарды зерттеу саласындағы негізгі процесс, ондай материалсыз инженерлік материалдарды ғылыми тұрғыдан түсіну мүмкін емес. басқалары бұл терминді механикалық сынау, жылулық талдау және тығыздықты есептеу сияқты макроскопиялық әдістерді қоса алғанда, материалдарды талдау процесін көрсетуге қолданады. Материалдарды сипаттауда байқалатын құрылымдардың масштабы, жеке атомдар мен химиялық байланыстарды бейнелеуде, металдардағы ірі дәнді құрылымдарды бейнелеуде сияқты сантиметрге дейін ангстромнан тұрады. Көптеген сипаттау әдістері ғасырлар бойы қолданылып келсе де, мысалы негізгі оптикалық микроскопия, жаңа әдістер мен әдістемелер үнемі пайда болып келеді. Әсіресе, 20-ғасырда электронды микроскоп пен екінші иондық массалық спектрометрияның пайда болуы осы салада революция жасады, бұл құрылымдар мен композицияларды бұрынғыдан әлдеқайда кіші масштабта бейнелеуге және талдауға мүмкіндік берді, бұл әртүрлі материалдардың әртүрлі қасиеттері мен мінез-құлқын көрсететінін түсіну деңгейінің айтарлықтай өсуіне әкелді. Соңғы кезде атомдық күш микроскопиясы соңғы 30 жылда кейбір үлгілерді талдау үшін мүмкін болатын ең жоғары ажыратылысты арттырды.
Characterization, when used in materials science, refers to the broad and general process by which a material's structure and properties are probed and measured. It is a fundamental process in the field of materials science, without which no scientific understanding of engineering materials could be ascertained. while others use the term to refer to any materials analysis process including macroscopic techniques such as mechanical testing, thermal analysis and density calculation. The scale of the structures observed in materials characterization ranges from angstroms, such as in the imaging of individual atoms and chemical bonds, up to centimeters, such as in the imaging of coarse grain structures in metals. While many characterization techniques have been practiced for centuries, such as basic optical microscopy, new techniques and methodologies are constantly emerging. In particular the advent of the electron microscope and secondary ion mass spectrometry in the 20th century has revolutionized the field, allowing the imaging and analysis of structures and compositions on much smaller scales than was previously possible, leading to a huge increase in the level of understanding as to why different materials show different properties and behaviors. More recently, atomic force microscopy has further increased the maximum possible resolution for analysis of certain samples in the last 30 years.
Спектроскопия
Спектроскопия - материалдардың химиялық құрамын, құрамының өзгеруін, кристалл құрылымын және фотоэлектрлік қасиеттерін ашу үшін бірқатар принциптерді қолданатын сипаттау әдістерінің санаты. Спектроскопиялық техниканың кейбір жалпы мысалдары: