Наномасштабты Суреттеу Техникалары
-
Атомдық зонд микроскопы және масса спектрометриясы
Атомдық зонд микроскопы: жеке атомдарды талдау, беттік құрамын анықтау. Бұл құрал металл бетіндегі атомдарды зерттеуге, жоғары ажыратымдылыққа мүмкіндік береді.
-
Электрондық микроскоптар: түрлері мен тарихы
Электронды микроскоптар: құрылысы, түрлері (TEM, SEM, STEM). Көру қабілеті 0.1 нм дейін жоғарылайды. 🔬🔬🔬
-
Атомдық аймақты көру микроскопының қағидалары мен қолданылуы
Атомдық микроскоптар тарихы: 1951 ж. Мюллер ойлап тапқан, ал 1955 ж. Мюллер мен Бахадур алғаш рет жекелеген атомдарды тікелей көрді. Түнгстен атомдарын бақылау.
-
Атомдар әлеміне шақыру: Ричард Фейнманның дәрісі
Физиканың жаңа саласы: Ричард Фейнманның 1959 жылғы дәрісі атомдарды тікелей манипуляциялау, нанотехнология, тығыз микросхемалар мен микроскоптар туралы.
-
Атомдық деңгейде бейнелеуге арналған кванттық туннельдік микроскоп
Атомдық деңгейде бейнелеуге арналған сканирлеуші түйіршік микроскопы (STM) туралы ақпарат. Физика бойынша Нобель сыйлығының иесі, қасиеттері мен қолданылуы.
-
Шағын бұрышпен нейтрон шағылысуы: құрылымды зерттеу әдісі
Шағын бұрышпен нейтронды шағылыстыру (SANS) – 1-100 нм өлшемдегі заттар құрылымын зерттейтін әдіс. Ретсіз жүйелерді талдауға, магниттік қасиеттерін анықтауға көмектеседі.
-
Жалқы молекулалық күш спектроскопиясы: әдістер мен қолданылуы
Молекулалық күш спектроскопиясы – жеке молекулалар арасындағы байланыз күшін зерттейтін әдіс. Полимерлер, ақуыздар мен химиялық байланыстардың қасиеттерін өлшейді.
-
Ұлпалар мен жасушалардың ультрақұрылымы
Ұяшықтар мен биоматериалдардың ультрақұрылымын зерттеу: электрондық микроскопия, органеллалар, және организмдерді жіктеу әдістері.🔬🧬
-
Сканерлік зондты микроскопия: беткейлерді зерттеу әдісі
Сканирлеуші зондты микроскопия (SPM): беттерді зерттеу, атомдық деңгейде бейнелеу, 1981 ж. құрылған. Бинниг пен Рорердің табысы, кері байланыс жүйесі.
-
Фотоэлектрондық эмиссиялық микроскопия: Тарихы мен дамуы
Фотоэлектрондық микроскопия (PEEM): беттік қабаттарды зерттеуге арналған жоғары сезімтал әдіс. UV, синхротрон сәулесі немесе X-сәулелер қолданылады.
-
Сканирлеу вольтты микроскопия және оның қолданылуы
Сканирующее вольт-микроскопия (SVM): техника измерения электрического потенциала на наноуровне. Неразрушающий метод, основанный на атомно-силовой микроскопии.
-
Биологиялық үлкен бұрыштан шашырау әдісі
Биологиялық шағын бұрыш шағылысу (SAS) әдісі – биоматериалдар құрылымын зерттеуге арналған. SAXS, SANS техникаларымен кристалдану/кристалдаспаған бөлшектерді анықтайды.
-
Газдық атомдық құрылымды зерттеу әдісі
Газ электрондық дифракциясы: молекула құрылымын зерттеу әдісі. Бұл әдіс газ күйіндегі атомдардың геометриялық орналасуын анықтайды, химияны түсінуге көмектеседі.
-
Өте төмен қысымды жасанды вакуум
Жоғары вакуум: ғылыми зерттеулерде қолданылатын, газ молекулаларының өте төмен қысымы мен ұзақ қашықтықта қозғалысы. Таза беткейлерді жасауға көмектеседі.
-
Микрозондтар: Құрамы мен қолданылуы
Микрозонд – үлгіні талдауға арналған құрал. Электрондық, иондық микрозондтар, микроспектроскопия түрлері туралы ақпарат. Зерттеу, талдау технологиялары.
-
Атомдық дәлдікке жеткен электрондық микроскоп: TEAM жобасы
Жаңа TEAM микроскопы: 0.05 нм-ге дейін шешілімі бар, атомдарды тікелей көруге мүмкіндік береді. Электрондық микроскопия, нанотехнология зерттеулері.
-
Пикотехнология: Материяны атомдық деңгейде манипуляциялау мүмкіндіктері
Пикотехнология: болашақтағы 10^-12 метр деңгейіндегі материяны манипуляциялау. Нанотехнологиядан әлдеқайда кішкентай, атомдық деңгейдегі технология.
-
Қатты заттардың микрохимиялық талдауына арналған құрал
Электрондық микрозонд (EMP) – қатты материалдардың химиялық құрамын бұзбай анықтайтын құрал. Элементтерді 10 ppm-ға дейін өлшейді, литийді де анықтау мүмкін.
-
Жұқа үлгілердегі және берілген электрондардағы сканерлік микроскопия
Сканирлеу электрондық микроскопиясы (STEM) – жуқа сынамалар арқылы электрондарды өткізіп, бейнелейтін әдіс. З-контраст, EDX, EELS талдауына қолданылады.
-
Жоғары ажыратымды электрондық энергия жоғалту спектроскопиясы
Жоғары ажыратымдылықты электрондық энергия жоғалту спектроскопиясы (HREELS) – беттік ғылымда қолданылатын құрал. Материалдардың беттік құрылымын, катализді зерттейді.
-
Беттік Күштер Аппараты: Өзара әрекеттесуді зерттеу құралы
Беттік күштер аппараты (SFA) – екі беткей арасындағы күштерді өлшейтін ғылыми құрал. Жақын арадағы әрекеттесу, деформация, үйкеліс зерттеуге қолданылады.
-
Сканирлеуші туннельдік микроскопия және спектроскопия: Электрондық тығыздық пен беттік топографияны зерттеу
Сканирлеуші туннельдік спектроскопия (STS) – бұл үлгідегі электрондар тығыздығын энергия деңгейінде зерттейтін әдіс. Жер бетін топографиялық түрде зерттеуге көмектеседі.
-
Кері фотоэмиссиялық спектроскопия: Қабаттардың электрондық құрылымын зерттеу
Беттік электрондық құрылымды зерттеуге арналған кері фотоэмиссиялық спектроскопия (IPES) туралы мақала. Жұқа пленкалар, адсорбаттарды талдауға көмектеседі.
-
Сканерлік зондтық литография және наноқұрылымдар жасау техникасы
Нанолитография: DPN әдісімен 100 нм-ден кіші масштабта өрнектер жасау. AFM ұшын қолданып, наноматериалдарды тікелей жаба аласыз. Технология туралы біліңіз!
-
Kelvin probe force microscope
-
Transmission electron cryomicroscopy
-
Кальвин Форрест Куэйт: Атомдық күш микроскопының жасаушысы
Кельвин Форрест Куэйт (1923-2019) – атомдық күш микроскопының қазақша ойлап табушысы, Стэнфорд университетінің профессоры. Акустика және микроскопия сарапшысы.
-
Нанотрибология: үйкеліс, тозу және жабысу құбылыстарының зерттелуі
Нанотрибология: үйкеліс, тозу, жабысу, майлауды атомдық деңгейде зерттеу. Беттерді өзгерту арқылы үстіңгі жағу мен жабысуды арттыру мүмкіндігі.
-
Profilometer
-
Жалғыз молекулалық эксперименттер: қасиеттері мен қолданылуы
Жалғыз молекулалық эксперименттер – жеке молекулалардың қасиеттерін зерттейді. Бұл әдіс, 1990 жылдардан бері дамып, биология, химия, физикада жаңа мәліметтер береді.
-
Фокусталған иондық сәуле: Құрылғы мен қолданылуы
Фокус иондық сәуле (FIB) – жартылай өткізгіштер, материалтану және биологияда материалдарды талдау, кесу, жабу үшін қолданылатын құрал.🔬✨
-
Көп қабатты ультражұқа кесу техникасы
Ұлтрамикротомия – биологиялық және материалдық үлгілерді электронды микроскопта зерттеу үшін 30-60 нм қалыңдыққа дейін кесу әдісі.🔬🔍
-
Энергия сүзгіленген трансмиссиялық электрондық микроскопия және элементтік талдау
Энергия сүзгіленген электрондық микроскопия (EFTEM) – үлгінің химиялық құрамын анықтауға арналған тәсіл. Электрондық кристаллографиямен бірге қолданылады.
-
Беттік күшейтілген Раман шағылысуы: қасиеттері мен механизмдері
Жаңа спектроскопиялық әдіс – SERS, бұл металл беттердегі молекулалардың Раман шағылысуын күшейтеді. Сезімталдығы жоғары, тіпті жеке молекулаларды анықтауға мүмкіндік береді.
-
Криоэлектрондық томография: Үш өлшемді бейнелеу әдісі
Криоэлектрондық томография (cryoET) – биологиялық молекулалардың 3D суреттерін алу әдісі. Бұл мұзда жағдайында үлгілерді зерттеу арқылы жоғары ажыратымдылықта бейнелейді.
-
Теріс бояу: Микроскопиядағы әдіс және қолданылуы
Микроскопиядағы негативті бояу әдісі жұқа сынаманы қараңғы фонға түсіріп, анық көруге көмектеседі. Бактерияларды зерттеуге тиімді!🔬🧪
-
Сканирлеулік трансмиссиялық электрондық микроскопияда сақиналы қара дала бейнелеуі
Сканирлеулік трансмиссиялық электрондық микроскопиядағы (STEM) сақиналы қара дала бейнелеуі – шашыраған электрондарды анықтау әдісі. TEM-нен өзгеше.
-
Жақынды далалық оптикалық микроскопия: Наноқұрылымдарды зерттеу әдісі
Жақынды далалық сканерлеуші оптикалық микроскопия (NSOM/SNOM) – наноқұрылымдарды зерттеуге арналған, жарық толқындарының қасиеттерін пайдаланатын микроскопия әдісі. 6нм дейін ажыратымдылық!
-
Жоғары ажыратымдылықтағы беріліс электронды микроскопиясы
Жоғары ажыратымдылық электронды микроскопия – атомдық құрылымды тікелей бейнелеуге мүмкіндік беретін құрал. Материалдардың қасиеттерін зерттеуге, нанобөлшектерді талдауға арналған.
-
Электрондық толқындарды голографиясы
Электронды голография: толқынды бөлшектерді бейнелеу технологиясы. 1948 ж. Деннис Габор ойлап тапқан, электрон микроскопының ажыратымдылығын арттыруға бағытталған.
-
Төмен энергиялы электрондық дифракция: Беттік құрылымды анықтау әдісі
Төмен энергиялы электрондық дифракция (LEED) – кристалл бетінің құрылымын зерттеу әдісі. Бұл техника беттік атомдардың орналасуын анықтауға көмектеседі.
-
Characterization (materials science)
-
Neutron triple-axis spectrometry