Ағылшыншамен салыстырыңыз: абзацты басыңыз — түпнұсқа терезеде ашылады. Абзац астындағы EN түймесі оны мәтін ішінде көрсетеді.
Кіріспе
Iddq сынағы – CMOS интегралды тізбектерін өндірістік ақауларға тексеру әдісі. Ол тоқ ағымын (Idd) тыныш күйде өлшеуге негізделген (тізбек ауыспаған кезде және кірістер статикалық мәндерде ұсталғанда). Осы күйде тұтынылатын ток Iddq деп аталады, Idd (тыныш) есебінен, сондықтан осылай аталады. Iddq сынағы дұрыс жұмыс істейтін тыныш CMOS цифрлық тізбегінде қуат көзі мен жер арасында статикалық ток жолы болмайды, тек шамалы мөлшерде ағым шығыны болады деген қағиданы қолданады. Көптеген кең таралған жартылай өткізгіш өндіріс ақаулары тоқтың бірнеше есеге артуына себеп болады, оны оңай анықтауға болады. Бұл бір өлшеммен чиптің көптеген мүмкін ақауларын тексеруге мүмкіндік береді. Тағы бір артықшылығы – ол әдеттегі ақаулықты тексеру векторларында табылмайтын ақауларды анықтауға көмектеседі. Iddq сынағы жай ғана қуат көзі тогын өлшеуден әлдеқайда күрделі. Мысалы, егер сызық Vdd-ге тікелей қосылса, сигналды басқаратын қақпа оны "1" деп орнатуға тырысса, ол қосымша ток тартпайды. Дегенмен, сигналды "0" деп орнатуға тырысатын басқа кіріс тоқсыз тоқтың күрт өсуін көрсетеді, бұл бұйымның жарамсыз екенін көрсетеді. Типік Iddq сынақтарында 20-ға жуық кіріс пайдаланылуы мүмкін. Iddq сынақ кірістеріне тек басқару қабілеті ғана қажет екенін ескеріңіз, бақылау қабілеті қажет емес. Себебі бақылау қуат көзінің жалпы қосылысы арқылы жүзеге асырылады.
Iddq testing is a method for testing CMOS integrated circuits for the presence of manufacturing faults. It relies on measuring the supply current (Idd) in the quiescent state (when the circuit is not switching and inputs are held at static values). The current consumed in the state is commonly called Iddq for Idd (quiescent) and hence the name. Iddq testing uses the principle that in a correctly operating quiescent CMOS digital circuit, there is no static current path between the power supply and ground, except for a small amount of leakage. Many common semiconductor manufacturing faults will cause the current to increase by orders of magnitude, which can be easily detected. This has the advantage of checking the chip for many possible faults with one measurement. Another advantage is that it may catch faults that are not found by conventional stuck at fault test vectors. Iddq testing is somewhat more complex than just measuring the supply current. If a line is shorted to Vdd, for example, it will still draw no extra current if the gate driving the signal is attempting to set it to '1'. However, a different input that attempts to set the signal to 0 will show a large increase in quiescent current, signalling a bad part. Typical Iddq tests may use 20 or so inputs. Note that Iddq test inputs require only controllability, and not observability. This is because the observability is through the shared power supply connection.
Iddq сынағының болашағы
Құрылғы геометриясы кішірейгенде, яғни транзисторлар мен есіктер кішірейіп, осының салдарынан үлкен және күрделі процессорлар мен SoC (Мур заңына сәйкес) пайда болады, ағып кету тогы күрт артып, болжау қиындайды. Бұл жағдайда, ақауы бар төмен ағып кету тогы бар бөлікті, табиғи түрде жоғары ағып кету тогы бар бөліктен ажырату қиынға түседі. Сонымен қатар, схеманың көлемі ұлғайғандықтан, бір ғана ақаудың әсері пайыздық көрсеткіш бойынша төмендейді, бұл сынақтың оны анықтауын қиындатады. Дегенмен, Iddq өте пайдалы болғандықтан, дизайнерлер оны қолдануды жалғастыру үшін шаралар қабылдауда. Осыған көмектесетін бір техника – қуатты тоқтату, онда әр блокқа берілетін қуатты аз ағып кетуі бар қосқыш арқылы толығымен өшіруге болады. Бұл әрбір блокты жеке немесе біріктіріп сынауға мүмкіндік береді, бұл бүкіл чипті сынаумен салыстырғанда сынақтарды әлдеқайда жеңілдетеді.
As device geometry shrinks, i. e transistors and gates become smaller resulting in larger and more complex processors and SoCs (see Moore's law), the leakage current becomes much higher and less predictable. This makes it difficult to tell a low leakage part with a defect from a naturally high leakage part. Also, increasing circuit size means a single fault will have a lower percentage effect, making it harder for the test to detect. However, Iddq is so useful that designers are taking steps to keep it working. One particular technique that helps is power gating, where the entire power supply to each block can be switched off using a low leakage switch. This allows each block to be tested individually or in combination, which makes the tests much easier when compared to testing the whole chip.