Введение
Тип полевого транзистора
Транзистор с высокой подвижностью электронов (HEMT или HEM FET), также известный как гетероструктурный полевой транзистор (HFET) или транзистор с модуляционной примесью (MODFET), – это полевой транзистор, включающий переход между двумя материалами с различными ширинами запрещенной зоны (то есть гетеропереход) в качестве канала, а не допированную область (как это обычно бывает в MOSFET). Наиболее часто используемой комбинацией материалов является GaAs с AlGaAs, хотя существует значительное разнообразие в зависимости от области применения прибора. Приборы с более высоким содержанием индия обычно демонстрируют лучшие высокочастотные характеристики, а в последние годы транзисторы HEMT на основе нитрида галлия привлекли внимание благодаря своей высокой мощности. Как и другие полевые транзисторы, HEMT используются в интегральных схемах в качестве цифровых ключей. Полевые транзисторы также могут использоваться в качестве усилителей для больших токов, используя небольшое напряжение в качестве управляющего сигнала. Оба этих применения возможны благодаря уникальным вольт-амперным характеристикам полевых транзисторов. Транзисторы HEMT способны работать на более высоких частотах, чем обычные транзисторы, вплоть до миллиметровых волн, и используются в высокочастотных устройствах, таких как сотовые телефоны, спутниковые телевизионные приемники, преобразователи напряжения и радиолокационное оборудование. Они широко применяются в спутниковых приемниках, маломощных усилителях и в оборонной промышленности.
Приложения
Приложения HEMT включают в себя микроволновую и миллиметровую связь, визуализацию, радиолокацию, радиоастрономию и переключение мощности. Они применяются в различных типах оборудования, от сотовых телефонов, адаптеров питания и DBS-приемников до систем радиоастрономии и радиоэлектронной борьбы, таких как радиолокационные системы. Многочисленные компании по всему миру разрабатывают, производят и продают устройства на основе HEMT в виде дискретных транзисторов, в виде "монолитных микроволновых интегральных схем" (MMIC) или в составе интегральных схем переключения мощности. HEMT подходят для применений, требующих высокого коэффициента усиления и низкого уровня шума на высоких частотах, поскольку они демонстрируют усиление тока на частотах выше 600 ГГц и усиление мощности на частотах выше 1 ТГц. HEMT на основе нитрида галлия используются в качестве силовых переключающих транзисторов в приложениях преобразователей напряжения благодаря их низкому сопротивлению в открытом состоянии, низким потерям при переключении и высокой пробивной способности. К этим приложениям для преобразователей напряжения на основе нитрида галлия относятся адаптеры переменного тока, которые выигрывают от уменьшенных габаритов за счет использования меньших пассивных электронных компонентов в силовой схеме. В основе HEMT лежит MOSFET (металл-оксид-полупроводниковый полевой транзистор) на основе GaAs (арсенида галлия), который Мимура исследовал с 1977 года как альтернативу стандартному кремниевому (Si) MOSFET. Идея HEMT возникла у него весной 1979 года, когда он ознакомился с информацией о модулированном гетероструктурном сверхрешетчатом слое, разработанном в Bell Labs в США. Мимура подал заявку на патент на HEMT в августе 1979 года, а затем получил патент позднее в том же году. Первая демонстрация устройства HEMT, D HEMT, была представлена Мимурой и Сатоши Хиямидзу в мае 1980 года, а затем они продемонстрировали первый E HEMT в августе 1980 года. Первая демонстрация "инвертированного" HEMT была представлена Делагебодо и Нюеном в августе 1980 года. Позднее, в 2004 году, П.Д. Е и Б. Ян с соавторами продемонстрировали MOS HEMT (металл-оксид-полупроводниковый HEMT) на основе GaN (нитрида галлия). В нем использовалась пленка оксида алюминия (Al2O3), нанесенная методом атомно-слоевого осаждения (ALD), как в качестве диэлектрика затвора, так и для пассивации поверхности.
Операция
Транзисторы полевого эффекта, работа которых основана на формировании двумерного электронного газа (2DEG), известны как HEMT. В HEMT электрический ток протекает между стоком и истоком через 2DEG, который расположен на границе между двумя слоями с различными ширинами запрещенной зоны, называемой гетеропереходом. Некоторые примеры ранее исследованных составов слоев гетероструктур для HEMT включают AlGaN/GaN и Si/SiGe.
Создание канала 2DEG
Широкополосный элемент легирован донорными атомами, поэтому в его зоне проводимости имеется избыток электронов. Эти электроны будут диффундировать в зону проводимости соседнего узкополосного материала из-за наличия состояний с более низкой энергией. Движение электронов вызовет изменение потенциала и, следовательно, электрическое поле между материалами. Это электрическое поле будет возвращать электроны обратно в зону проводимости широкополосного элемента. Процесс диффузии продолжается до тех пор, пока диффузия и дрейф электронов не уравновесятся, формируя равновесный переход, аналогичный p–n переходу. Следует отметить, что в нелегированном узкополосном материале теперь наблюдается избыток основных носителей заряда. Тот факт, что носители заряда являются основными, обеспечивает высокую скорость переключения, а отсутствие легирования в полупроводнике с низкой шириной запрещенной зоны означает отсутствие донорных атомов, вызывающих рассеяние, что приводит к высокой подвижности. В случае GaAs HEMT используется высокая подвижность электронов, создаваемая гетеропереходом сильно легированного широкого диапазона n-типа донорного слоя (AlGaAs в нашем примере) и нелегированного узкого диапазона канального слоя без допирующих примесей (GaAs в данном случае). Электроны, генерируемые в тонком n-типе AlGaAs слое, полностью переходят в GaAs слой, формируя обедненный AlGaAs слой, поскольку гетеропереход, образованный материалами с разной шириной запрещенной зоны, формирует квантовую яму (глубокий потенциальный колодец) в зоне проводимости на стороне GaAs, где электроны могут быстро перемещаться, не сталкиваясь с примесями, поскольку GaAs слой нелегирован, и из которой они не могут выйти. В результате формируется очень тонкий слой высокоподвижных проводящих электронов с очень высокой концентрацией, что обеспечивает каналу очень низкое удельное сопротивление (или, другими словами, "высокую подвижность электронов").
Электростатический механизм
Поскольку GaAs имеет более высокое электронное сродство, свободные электроны в слое AlGaAs переходят в недопированный слой GaAs, где они формируют двумерный электронный газ с высокой подвижностью в пределах 100 ангстрем (10 нм) от границы раздела. n-тип слой AlGaAs в ГЭТ полностью обедняется посредством двух механизмов обеднения: захват свободных электронов поверхностными состояниями вызывает обеднение поверхности, а перенос электронов в недопированный слой GaAs приводит к обеднению на границе раздела. Уровень Ферми металла затвора согласован с точкой закрепления, которая находится на 1,2 эВ ниже края зоны проводимости. При уменьшении толщины слоя AlGaAs электронов, поставляемых донорами в слое AlGaAs, недостаточно для закрепления слоя. В результате, изгиб зон перемещается вверх, и двумерный электронный газ не формируется. При приложении к затвору положительного напряжения, превышающего пороговое, электроны накапливаются на границе раздела и образуют двумерный электронный газ.
Trapping of free electrons by surface states causes the surface depletion. Transfer of electrons into the undoped GaAs layer brings about the interface depletion. The Fermi level of the gate metal is matched to the pinning point, which is 1.2 eV below the conduction band. With the reduced AlGaAs layer thickness, the electrons supplied by donors in the AlGaAs layer are insufficient to pin the layer. As a result, band bending is moving upward and the two dimensional electrons gas does not appear. When a positive voltage greater than the threshold voltage is applied to the gate, electrons accumulate at the interface and form a two dimensional electron gas.
Модулирующий допинг в гемоглобинных терапевтических терапиях
Важным аспектом HEMT является то, что разрывы зон проводимости и валентной зоны могут быть изменены независимо друг от друга. Это позволяет контролировать тип носителей заряда, входящих в устройство и выходящих из него. Поскольку для работы HEMT необходимы электроны в качестве основных носителей, в одном из материалов можно применить градиентное допирование, тем самым уменьшив разрыв зон проводимости и сохранив разрыв валентной зоны. Эта диффузия носителей приводит к накоплению электронов вдоль границы между двумя областями внутри материала с узкой запрещенной зоной. Накопление электронов обеспечивает очень высокий ток в этих устройствах. Термин "модуляционное допирование" отражает тот факт, что допанты пространственно отделены от электронов, переносящих ток. Эта технология была изобретена Хорстом Штормером в лабораториях Bell.
Производство
MODFET могут быть изготовлены эпитаксиальным выращиванием напряженного слоя SiGe. В этом напряженном слое содержание германия линейно возрастает до примерно 40–50%. Такая концентрация германия обеспечивает формирование квантовой ямы с высоким барьером зоны проводимости и высокой плотностью очень подвижных носителей заряда. Конечным результатом является ФЭТ со сверхвысокой скоростью переключения и низким уровнем шума. Вместо SiGe также используются InGaAs/AlGaAs, AlGaN/InGaN и другие соединения. InP и GaN начинают заменять SiGe в качестве материала основы для MODFET благодаря лучшим показателям по шуму и мощности.
По технологии выращивания: pHEMT и mHEMT
В идеале, два различных материала, используемых для гетероперехода, должны иметь одинаковую постоянную решетки (расстояние между атомами). На практике, постоянные решетки обычно немного отличаются (например, AlGaAs на GaAs), что приводит к дефектам кристаллической структуры. В качестве аналогии, представьте, что вы сжимаете вместе два пластиковых гребня с немного различающимся шагом зубьев. Через определенные промежутки вы увидите, как два зубца сближаются. В полупроводниках эти несоответствия формируют глубокие ловушки и значительно снижают характеристики устройства. ГЭМТ, в котором это правило нарушено, называется p-ГЭМТ или псевдоморфной ГЭМТ. Это достигается использованием чрезвычайно тонкого слоя одного из материалов – настолько тонкого, что кристаллическая решетка просто растягивается, чтобы соответствовать другому материалу. Эта техника позволяет создавать транзисторы с большей разницей в ширине запрещенной зоны, чем это было бы возможно иным образом, что обеспечивает им более высокую производительность. Другой способ использования материалов с разными постоянными решетки – размещение между ними буферного слоя. Это применяется в m-ГЭМТ или метаморфной ГЭМТ, являющейся усовершенствованием p-ГЭМТ. Буферный слой изготавливается из AlInAs, при этом концентрация индия градиентно изменяется таким образом, чтобы соответствовать постоянной решетки как подложки GaAs, так и канала GaInAs. Это дает преимущество в том, что практически любая концентрация индия в канале может быть реализована, что позволяет оптимизировать устройства для различных применений (низкая концентрация индия обеспечивает низкий уровень шума, а высокая концентрация индия – высокий коэффициент усиления).
По электрическому поведению: eHEMT и dHEMT
HEMT, изготовленные из полупроводниковых гетероинтерфейсов, не содержащих чистый поляризующий заряд на границе, таких как AlGaAs/GaAs, требуют положительного напряжения на затворе или соответствующего допирования донорами в барьере AlGaAs для притяжения электронов к затвору, что формирует двумерный электронный газ и обеспечивает протекание электронного тока. Это поведение аналогично обычно используемым полевым транзисторам в режиме обогащения, и такое устройство называется HEMT с обогащением, или eHEMT. При создании HEMT на основе AlGaN/GaN можно достичь более высокой удельной мощности и пробивного напряжения. Нитриды также имеют иную кристаллическую структуру с меньшей симметрией, а именно вюрцитную, которая обладает встроенной электрической поляризацией. Поскольку эта поляризация различается между канальным слоем GaN и барьерным слоем AlGaN, формируется плоскость нескомпенсированного заряда порядка 0,01–0,03 Кл/м². Благодаря типичной ориентации кристалла, используемой для эпитаксиального роста ("галлиевой стороной") и геометрии устройства, благоприятной для изготовления (затвор сверху), эта плоскость заряда является положительной, что приводит к формированию двумерного электронного газа даже при отсутствии допирования. Такой транзистор обычно находится во включенном состоянии и отключается только при отрицательном смещении на затворе – таким образом, этот тип HEMT известен как HEMT с обеднением, или dHEMT. При достаточном допировании барьера акцепторами (например, магнием) встроенный заряд может быть компенсирован для восстановления более привычной работы eHEMT, однако высокоплотное p-допирование нитридов является технологически сложной задачей из-за диффузии примеси в канал.
Индуцированная гемоглобинальная терапия
В отличие от HEMT с модуляционной допировкой, транзистор с индуцированной высокой подвижностью электронов предоставляет возможность регулировать различные концентрации электронов с помощью верхнего затвора, поскольку носители заряда "индуцируются" в плоскость двумерного электронного газа, а не создаются за счет допантов. Отсутствие допированного слоя значительно увеличивает подвижность электронов по сравнению с транзисторами с модуляционной допировкой. Такая высокая степень чистоты открывает возможности для проведения исследований в области квантового бильярда с целью изучения квантового хаоса, а также для создания ультрастабильных и ультрачувствительных электронных устройств.