Кіріспе
Спектроскопиялық талдау диапазоны. Ультракүлгін (УК) спектроскопиясы немесе ультракүлгін-көрінетін (УК-КӨР) спектрофотометриясы – электромагниттік спектрдің ультракүлгін бөлігінде және оған жақын, толық көрінетін аймақтарындағы сіңіру немесе шағылысу спектроскопиясы болып табылады. УК-КӨР спектрофотометрлері сынама арқылы жарық сәулесін өткізіп, әрбір толқын ұзындығында сіңірілген жарық мөлшерін өлшейді. Сіңірілген жарық мөлшері сынамадағы сіңіретін заттың концентрациясына пропорционалды.
Ultraviolet (UV) spectroscopy or ultraviolet–visible (UV–VIS) spectrophotometry refers to absorption spectroscopy or reflectance spectroscopy in part of the ultraviolet and the full, adjacent visible regions of the electromagnetic spectrum. UV vis spectrophotometers work by passing a beam of light through the sample and measuring the amount of light that is absorbed at each wavelength. The amount of light absorbed is proportional to the concentration of the absorbing compound in the sample
Оптикалық ауысулар
Көптеген молекулалар мен иондар ультракүлгін немесе көрінетін спектрде энергияны сіңіреді, яғни олар хромофорлар. Сіңірілген фотон хромофордағы электронды жоғары энергиялы молекулалық орбитальдарға көтереді, нәтижесінде қозу күйі пайда болады. Органикалық хромофорлар үшін төрт мүмкін ауысу түрі қарастырылады: π–π*, n–π*, σ–σ* және n–σ*. Көшіру металдарының кешендері көбінесе боялған (яғни көрінетін жарықты сіңіреді), себебі толық емес d орбитальдарымен байланысты бірнеше электрондық күйлер болады.
Іс жүзіндегі ескертулер
Beer-Lambert заңының қолданылуы үшін эксперименттік жағдайда орындалуы тиіс жасырын шарттары бар; әйтпесе заңнан ауытқулар болуы мүмкін. Мысалы, сынаманың химиялық құрамы мен физикалық жағдайы оның өшіру коэффициентін өзгерте алады. Сондықтан, қорытындылардың дұрыс болуы үшін сынақ үлгісінің химиялық және физикалық жағдайы эталондық өлшемдермен сәйкес болуы керек. Әлемдік фармакопеялар, мысалы американдық (USP) және еуропалық (Ph. Eur.) фармакопеялары, спектрофотометрлердің қатаң реттеу талаптарына сәйкес жұмыс істеуін талап етеді, бұл шарттарға кездейсоқ жарық және толқын ұзындығының дәлдігі сияқты факторлар кіреді.
Спектрлік жолақтың кеңдігі
Спектрофотометрдің спектрлік ені – құралдың белгілі бір уақытта үлгі арқылы өткізетін толқын ұзындықтарының диапазоны. Ол жарық көзімен, монохроматормен, оның физикалық саңылауының енімен, оптикалық дисперсиясымен және спектрофотометрдің детекторымен анықталады. Спектрлік ен өлшеудің ажыратымдылығы мен дәлдігіне әсер етеді. Тар спектрлік ен жоғары ажыратымдылық пен дәлдікті қамтамасыз етеді, бірақ сонымен қатар бүкіл спектрді сканерлеу үшін көбірек уақыт пен энергия қажет. Кен спектрлік ен жылдам және оңай сканерлеуге мүмкіндік береді, бірақ сіңіру шыңдары біріккен үлгілер үшін ажыратымдылық пен дәлдік төмендеуі мүмкін. Сондықтан, сенімді және нақты нәтижелер алу үшін спектрлік енді дұрыс таңдау маңызды. Жауаптың сызықтығын арттыру үшін үлгілік жасушаға түсетін жарық монохроматикалық болуы керек. Кез келген жарық, монохроматор таңдаған толқын ұзындығынан өзгеше, және УФ-спектрофотометрдің детекторына жететін жарық – бұл шашырау немесе оптикалық беттерден шағылысу салдарынан болуы мүмкін. Шашыраған жарық, әсіресе жоғары сіңіруде, сіңіру өлшемінде маңызды қателерге әкелуі мүмкін, себебі ол детекторы анықтаған сигналға қосылады, тіпті ол таңдалған толқын ұзындығының бөлігі болмаса да. Нәтижесінде өлшенген сіңірушілік нақты сіңірушіліктен төмен болады. Шашыраған жарық – талдау үшін қолданылатын жарықтың тазалығын анықтайтын маңызды фактор. Оған ең көп әсер ететін фактор – монохроматордың шашыраған жарық деңгейі. Ауытқулар төмен концентрация және жоғары сіңіру жағдайында ең байқалады. Соңғы сілтеме осы ауытқуды түзету жолын сипаттайды. Мыс(II) хлориді сияқты кейбір ерітінділер, судағы концентрацияға байланысты, түстелген ионның (екі валентті мыс ионының) айналасындағы жағдайлар өзгергенде визуально өзгеріп, көгілдірден жасылға өтеді. Бұл монохроматикалық өлшемдердің Beer-Lambert заңынан ауытқуына себеп болады.
Өлшемнің белгісіздігі көздері
Жоғарыда аталған факторлар УФ/ВИ спектрофотометриясымен алынған нәтижелердің өлшеу белгісіздігіне әсер етеді. Егер УФ/ВИ спектрофотометриясы сандық химиялық талдау үшін қолданылса, нәтижелерге қосымша түрде өлшенетін заттар мен/немесе ерітінділердің ерекшеліктерінен туындайтын белгісіздік көздері де әсер етеді. Мұндайларға сіңіру жолақтарының қабаттасуынан туындайтын спектрлік араласулар, сіңіретін заттардың түсінің өшуі (ыдырау немесе реакция нәтижесінде) және сынама мен калибрлеу ерітіндісінің құрамындағы мүмкін болатын айырмашылықтар жатады.
Ультрафиолетті көру спектрлі фотометр
Ультракүлгін-көрінетін спектроскопияда қолданылатын құрал UV/Vis спектрофотометр деп аталады. Ол үлгі арқылы өткеннен кейін жарықтың қарқындылығын өлшейді және оны үлгі арқылы өтпестен бұрынғы жарықтың қарқындылығымен салыстырады. Бұл қатынас трансмитанция деп аталады және әдетте проценттік көрсетіммен (%T) беріледі. Абсорбция, , трансмитанцияға негізделген: UV-көрінетін спектрофотометрді рефлектанцияны өлшеу үшін де конфигурациялауға болады. Бұл жағдайда спектрофотометр үлгіден шағылысқан жарықтың қарқындылығын өлшейді және оны эталондық материалдан (мысалы, ақ плиткадан) шағылысқан жарықтың қарқындылығымен салыстырады. Бұл қатынас рефлектанция деп аталады және әдетте проценттік көрсетіммен (%R) беріледі. Спектрофотометрдің негізгі бөліктері: жарық көзі, үлгіні ұстауға арналған ұяшық, жарықтың әртүрлі толқын ұзындықтарын бөлуге арналған дифракциялық тор немесе призма монохроматор ретінде, және детектор. Сәулелену көзі көбінесе вольфрам жіпшесі (300–2500 нм), ультракүлгін аймақта үздіксіз болатын дейтерий доғасы лампасы (190–400 нм), 160-тан 2000 нм-ге дейін үздіксіз болатын ксенон доғасы лампасы; немесе соңғы кезде, жарықдиодтар (LED) болып табылады.
The UV–visible spectrophotometer can also be configured to measure reflectance. In this case, the spectrophotometer measures the intensity of light reflected from a sample , and compares it to the intensity of light reflected from a reference material (such as a white tile). The ratio is called the reflectance, and is usually expressed as a percentage (%R). The basic parts of a spectrophotometer are a light source, a holder for the sample, a diffraction grating or a prism as a monochromator to separate the different wavelengths of light, and a detector. The radiation source is often a tungsten filament (300–2500 nm), a deuterium arc lamp, which is continuous over the ultraviolet region (190–400 nm), a xenon arc lamp, which is continuous from 160 to 2,000 nm; or more recently, light emitting diodes (LED)
Samples for UV/Vis spectrophotometry are most often liquids, although the absorbance of gases and even of solids can also be measured. Samples are typically placed in a transparent cell, known as a cuvette. Cuvettes are typically rectangular in shape, commonly with an internal width of 1 cm. (This width becomes the path length, , in the Beer–Lambert law.) Test tubes can also be used as cuvettes in some instruments. The type of sample container used must allow radiation to pass over the spectral region of interest. The most widely applicable cuvettes are made of high quality fused silica or quartz glass because these are transparent throughout the UV, visible and near infrared regions. Glass and plastic cuvettes are also common, although glass and most plastics absorb in the UV, which limits their usefulness to visible wavelengths. microscopic paint chips and the color of glass fragments. They are also used in materials science and biological research and for determining the energy content of coal and petroleum source rock by measuring the vitrinite reflectance. Microspectrophotometers are used in the semiconductor and micro optics industries for monitoring the thickness of thin films after they have been deposited. In the semiconductor industry, they are used because the critical dimensions of circuitry is microscopic. A typical test of a semiconductor wafer would entail the acquisition of spectra from many points on a patterned or unpatterned wafer. The thickness of the deposited films may be calculated from the interference pattern of the spectra. In addition, ultraviolet–visible spectrophotometry can be used to determine the thickness, along with the refractive index and extinction coefficient of thin films.
UV/Vis спектрофотометриясы үшін үлгілер көбінесе сұйықтықтар болып табылады, бірақ газдардың және тіпті қатты заттардың абсорбциясын да өлшеуге болады. Үлгілер әдетте кювет деп аталатын мөлдір жасушаға салынады. Кюветтер әдетте тіктөртбұрышты пішінде болады, әдетте ішкі ені 1 см. (Бұл ені жол ұзындығы болады, , Beer–Lambert заңында.) Кейбір құралдарда сынақ түтікшелерін де кювет ретінде қолдануға болады. Қолданылатын үлгі контейнерінің түрі сәулеленудің қызығушылық тудыратын спектрлік аймақтан өтуіне мүмкіндік беруі керек. Ең көп қолданылатын кюветтер жоғары сапалы балқытылған кварц немесе кварц шыныдан жасалған, өйткені олар UV, көрінетін және жақын инфрақызыл аймақтарда мөлдір. Шыны және пластик кюветтер де қолданылады, бірақ шыны және көптеген пластиктер UV сәулелерін сіңіреді, бұл олардың пайдалылығын көрінетін толқын ұзындықтарымен шектейді. микроскопиялық бояу сынықтары және шыны сынықтарының түсі. Олар сондай-ақ материалтану және биологиялық зерттеулерде, сондай-ақ витриниттің рефлектанциясын өлшеу арқылы көмір және мұнайдың бастапқы тау жыныстарының энергиялық мазмұнын анықтау үшін қолданылады. Микроспектрофотометрлер жартылай өткізгіш және микрооптика салаларында жұқа пленкалардың қалыңдығын бақылау үшін қолданылады. Жартылай өткізгіш өнеркәсібінде олар қолданылады, өйткені схемалардың маңызды өлшемдері микроскопиялық деңгейде болады. Жартылай өткізгіш пластинаны сынаудың әдеттегі тесті әлгі пластинадағы үлгіленген немесе үлгіленбеген нүктелерден спектрлерді алуды қамтиды. Салынған пленкалардың қалыңдығын спектрлердің интерференциялық суретінен есептеуге болады. Сонымен қатар, ультракүлгін-көрінетін спектрофотометрияны жұқа пленкалардың сыну көрсеткіші мен жойылу коэффициентін анықтау үшін де қолдануға болады.
The UV–visible spectrophotometer can also be configured to measure reflectance. In this case, the spectrophotometer measures the intensity of light reflected from a sample , and compares it to the intensity of light reflected from a reference material (such as a white tile). The ratio is called the reflectance, and is usually expressed as a percentage (%R). The basic parts of a spectrophotometer are a light source, a holder for the sample, a diffraction grating or a prism as a monochromator to separate the different wavelengths of light, and a detector. The radiation source is often a tungsten filament (300–2500 nm), a deuterium arc lamp, which is continuous over the ultraviolet region (190–400 nm), a xenon arc lamp, which is continuous from 160 to 2,000 nm; or more recently, light emitting diodes (LED)
Samples for UV/Vis spectrophotometry are most often liquids, although the absorbance of gases and even of solids can also be measured. Samples are typically placed in a transparent cell, known as a cuvette. Cuvettes are typically rectangular in shape, commonly with an internal width of 1 cm. (This width becomes the path length, , in the Beer–Lambert law.) Test tubes can also be used as cuvettes in some instruments. The type of sample container used must allow radiation to pass over the spectral region of interest. The most widely applicable cuvettes are made of high quality fused silica or quartz glass because these are transparent throughout the UV, visible and near infrared regions. Glass and plastic cuvettes are also common, although glass and most plastics absorb in the UV, which limits their usefulness to visible wavelengths. microscopic paint chips and the color of glass fragments. They are also used in materials science and biological research and for determining the energy content of coal and petroleum source rock by measuring the vitrinite reflectance. Microspectrophotometers are used in the semiconductor and micro optics industries for monitoring the thickness of thin films after they have been deposited. In the semiconductor industry, they are used because the critical dimensions of circuitry is microscopic. A typical test of a semiconductor wafer would entail the acquisition of spectra from many points on a patterned or unpatterned wafer. The thickness of the deposited films may be calculated from the interference pattern of the spectra. In addition, ultraviolet–visible spectrophotometry can be used to determine the thickness, along with the refractive index and extinction coefficient of thin films.
Қосымша өтінімдер
УФ/ВИ химиялық реакцияның жылдамдығын сипаттау үшін қолданылуы мүмкін. Мысалы, сынап дитизонатының сары-қызыл және көк түсті изомерлерінің өзгеруін қарастыруға болады. Бұл талдау әдісі концентрацияның өзіне пропорционалды екендігіне негізделген. Осыған ұқсас тәсіл хромофорлар арасындағы тепе-теңдікті анықтауға да мүмкіндік береді. Күю газдарының спектрінен отынның химиялық құрамын, газдардың температурасын және отын-ауа қатынасын анықтауға болады.