Кіріспе

Материалдардың бетіндегі электрондық күйлер – материалдардың бетінде табылатын электрондық күйлер. Олар қатты материалдың бетпен аяқталуынан туындайды және бетке ең жақын атомдық қабаттарда ғана кездеседі. Материалдың бетпен аяқталуы электрондық жолақ құрылымының көлемді материалдан вакуумға өзгеруіне алып келеді. Беттегі әлсіз потенциалда жаңа электрондық күйлер пайда болады, олар беттік күйлер деп аталады.

Шокли штаттары мен Тамм штаттары

Жер бетіндегі күйлерді талқылау кезінде, әдетте Шокли күйлері мен Тамм күйлері ерекшеленеді, олар американ физигі Уильям Шокли мен орыс физигі Игорь Таммның есімдерімен аталған. Бұл екі типті күйлердің арасында қатаң физикалық айырмашылық жоқ, бірақ оларды сипаттаудағы сапалық ерекшеліктері мен математикалық тәсілдері әртүрлі. Тарихи тұрғыдан алғанда, таза және идеалды беттер үшін дербес электрондық жуықтау шеңберінде Шредингер теңдеуінің шешімдері ретінде туындайтын жер беті күйлері Шокли күйлері деп аталады. Шокли күйлері – кристаллдың тоқтауымен байланысты электрондық потенциалдың өзгеруінен туындайтын күйлер. Бұл тәсіл қалыпты металдар мен кейбір тар саңылаулы жартылай өткізгіштерді сипаттауға ыңғайлы. 3-сурет Шокли күйінің дербес электрондық жуықтау арқылы есептелген мысалын көрсетеді. Кристалл ішінде Шокли күйлері экспоненциалды түрде өшетін Блох толқындарына ұқсайды. Тығыз байланыс моделі шеңберінде есептелетін жер беті күйлері көбінесе Тамм күйлері деп аталады. Тығыз байланыс тәсілінде электрондық толқындық функциялар әдетте атомдық орбитальдардың сызықтық комбинациялары (LCAO) түрінде беріледі. Шокли күйлерін сипаттау үшін қолданылатын дербес электрондық модельге қарағанда, Тамм күйлері өтпелі металдар мен кең саңылаулы жартылай өткізгіштерді сипаттауға да жарамды.

Бұрыштық шешімді фотоэмиссиялық спектроскопия

Жер бетіндегі күйлердің таралуын өлшеуге арналған эксперименталды әдіс – бұрыштық ажыратымды фотоэмиссиялық спектроскопия (ARPES) немесе бұрыштық ажыратымды ультракүлгін фотоэлектрондық спектроскопиясы (ARUPS).

Скандық туннельдік микроскопия

Жер бетіндегі күйдің дисперсиясы сканирлеуші-түннельдік микроскопты пайдаланып өлшенуі мүмкін; осы тәжірибелерде, жер бетіндегі күй тығыздығындағы периодтық өзгерістер, олар жер бетіндегі қосымшалар немесе саты жиектерінен шашыраудан туындайды, белгілі бір кернеуде STM ұшымен өлшенеді. Жер бетіндегі электрондардың толқын векторы мен кернеуі (энергиясы) тиімді массасы және жер бетіндегі күйдің басталу энергиясы бар еркін электрон моделіне сәйкес келеді.