Ағылшыншамен салыстырыңыз: абзацты басыңыз — түпнұсқа терезеде ашылады. Абзац астындағы EN түймесі оны мәтін ішінде көрсетеді.
Мазмұны
Кіріспе
Лантан гексабориді (LaB6, сондай-ақ лантан бориды және LaB деп аталады) - органикалық емес химиялық зат, лантан бориды. Ол еру температурасы 2210 °C болатын, су мен тұз қышқылында ерімейтін отқа төзімді керамикалық материал. Мұның қаттылығы Моостың 9.5 деңгейінде. Ол төмен жұмыс функциясы мен ең жоғары электронды эмиссивтіліктердің бірі болып табылады және вакуумда тұрақты. Стойхиометриялық үлгілер қызғылт қызғылт түсті, ал борға бай үлгілер (LaB6.07 жоғары) көк түсті. Иондық бомбалау оның түсін қызғылттан зөбәржәт жасылға ауыстырады. LaB6 - 0,45 К салыстырмалы түрде төмен өту температурасы бар суперөткізгіш.
Lanthanum hexaboride (LaB6, also called lanthanum boride and LaB) is an inorganic chemical, a boride of lanthanum. It is a refractory ceramic material that has a melting point of 2210 °C, and is insoluble in water and hydrochloric acid. It is extremely hard, with a Mohs hardness of 9.5. It has a low work function and one of the highest electron emissivities known, and is stable in vacuum. Stoichiometric samples are colored intense purple violet, while boron rich ones (above LaB6.07) are blue. Ion bombardment changes its color from purple to emerald green. LaB6 is a superconductor with a relatively low transition temperature of 0.45 K.
Электрондық көздер
Лантан гексаборидінің негізгі қолданылуы ыстық катодтарда, я жалғыз кристалл ретінде, я физикалық будың жиналуы арқылы жиналған қаптама ретінде қолданылады. Лантан гексабориді (LaB6) және церий гексабориді (CeB6) сияқты гексаборидтер жұмыс функциялары төмен, шамамен 2,5 ЭВ. Олар сондай-ақ катодтық улануға да біршама төзімді. Церий гексаборидінің катодтары 1700 К-те лантан гексаборидінен төмен булану жылдамдығына ие, бірақ 1850 К-тен жоғары температурада олар тең болады. Церий гексаборидінің катодтарының өмір сүру мерзімі лантан гексаборидінің бір жарым есе көп, себебі ол көміртекпен ластануға төзімді. Гексаборид катодтары вольфрам катодтарына қарағанда он есе "жарық" және 1015 есе ұзақ өмір сүреді. Гексаборид катодтарын пайдаланатын құрылғылар мен әдістерге электронды микроскоптар, микротолқындық түтіктер, электронды литография, электронды сәулемен дәнекерлеу, рентгендік түтіктер, еркін электронды лазерлер және электр қозғалтқыштарының бірнеше түрлері жатады. Лантан гексабориді қыздырылған катодтардан баяу буланып, Венелттің цилиндрлері мен тесіктерінде шөгінділер түзеді.
The principal use of lanthanum hexaboride is in hot cathodes, either as a single crystal or as a coating deposited by physical vapor deposition. Hexaborides, such as lanthanum hexaboride (LaB6) and cerium hexaboride (CeB6), have low work functions, around 2.5 eV. They are also somewhat resistant to cathode poisoning. Cerium hexaboride cathodes have a lower evaporation rate at 1700 K than lanthanum hexaboride, but they become equal at temperatures above 1850 K. Cerium hexaboride cathodes have one and half the lifetime of lanthanum hexaboride, due to the former's higher resistance to carbon contamination. Hexaboride cathodes are about ten times "brighter" than tungsten cathodes, and have 10–15 times longer lifetime. Devices and techniques in which hexaboride cathodes are used include electron microscopes, microwave tubes, electron lithography, electron beam welding, X ray tubes, free electron lasers and several types of electric propulsion technologies. Lanthanum hexaboride slowly evaporates from the heated cathodes and forms deposits on the Wehnelt cylinders and apertures.
Рентген сәулелерінің дифракциялық эталоны
LaB6 сонымен қатар рентген ұнтақ дифракциясы (XRD немесе pXRD) шың позициясы мен сызық пішінінің эталондық стандарты ретінде қолданылады. Сондықтан оны дифрактометрдің өлшенген бұрыштарын калибрлеуге және дифракциялық шыңдардың аспаптық кеңейтуін анықтауға қолданылады. Соңғысы кристаллит өлшемі мен XRD арқылы деформация өлшеуін мүмкін етеді.
LaB6 is also used as an X ray powder diffraction (XRD or pXRD) peak position and line shape reference standard. It is therefore used to calibrate measured diffractometer angles and to determine instrumental broadening of diffraction peaks. The latter makes crystallite size and strain measurements by XRD possible.