Введение

Лантановый гексаборид (LaB6, также называемый бордилом лантана и LaB) - неорганический химикат, бордилом лантана. Это огнеупорный керамический материал, температура плавления которого составляет 2210 °C, нерастворимый в воде и соляной кислоте. Он чрезвычайно тверд, с твердостью по шкале Мооса 9,5. Он имеет низкую рабочую функцию и одну из самых высоких известных электронных эмиссивностей, а также стабилен в вакууме. Стойхиометрические образцы окрашены в интенсивно-фиолетовый цвет, а богатые бором (выше LaB6.07) - в синий цвет. Ионная бомбардировка меняет его цвет с фиолетового на изумрудно-зеленый. LaB6 является сверхпроводником с относительно низкой температурой перехода 0,45 К.

Источники электронов

Основное применение гексаборида лантана - в горячих катодах, либо в виде одиночного кристалла, либо в виде покрытия, откладываемого физическим осаждением паров. Гексабориды, такие как гексаборид лантана (LaB6) и гексаборид церия (CeB6), имеют низкие рабочие функции, около 2,5 ЭВ. Они также несколько устойчивы к отравлению катодом. У катадосов церия гексаборида более низкая скорость испарения при 1700 К, чем у лантанового гексаборида, но они становятся равными при температурах выше 1850 К. У катадосов церия гексаборида срок службы один и половина по сравнению с лантановым гексаборидом из-за более высокой устойчивости первого к загрязнению углеродом. Гексаборидные катоды примерно в десять раз "ярче" чем вольфрамовые катоды и имеют в 1015 раз более длительный срок службы. Устройства и методы, в которых используются гексаборидные катоды, включают электронные микроскопы, микроволновые трубки, электронную литографию, электроническую сварку, рентгеновские трубки, лазеры с свободными электронами и несколько видов электрических технологий движения. Гексаборид лантана медленно испаряется из нагретых катодов и образует отложения на цилиндрах и отверстиях Венелта.

Справочная диапазона рентгеновской дифракции

LaB6 также используется в качестве стандарта для диагностики пикового положения и линии. Поэтому он используется для калибровки измеренных углов дифрактометра и для определения инструментального расширения дифракционных пиков. Последнее позволяет проводить измерения размера кристаллита и деформации с помощью XRD.