Введение
Процесс выращивания кристаллов
Эпитаксия молекулярных пучков (ЭМП) – это метод эпитаксии для нанесения тонких плёнок монокристаллов. ЭМП широко используется в производстве полупроводниковых приборов, включая транзисторы, и считается одним из фундаментальных инструментов для развития нанотехнологий. ЭМП применяется для изготовления диодов и МОП-транзисторов (транзисторов с полевым эффектом МОП) на микроволновых частотах, а также для производства лазеров, используемых для чтения оптических дисков (таких как CD и DVD).
История
Первоначальные идеи процесса MBE были впервые сформулированы К. Г. Гюнтером. Пленки, которые он наносил, не были эпитаксиальными, а осаждались на стеклянные подложки. С развитием вакуумных технологий процесс MBE был продемонстрирован Джоном Дэви и Титусом Панки, которым удалось вырастить эпитаксиальные пленки GaAs на монокристаллических подложках GaAs, используя метод Гюнтера. Дальнейшее существенное развитие технологии MBE стало возможным благодаря исследованиям Дж. Р. Артура кинетики механизмов роста и наблюдениям Альфреда Ю. Чо in situ процесса MBE с использованием рефлексионной высокоэнергетической электронной дифракции (RHEED) в конце 1960-х годов.
Метод
Эпитаксия молекулярного луча происходит в высоком вакууме или ультравысоком вакууме (10−8–10−12 Торр). Наиболее важным аспектом MBE является скорость напыления (обычно менее 3000 нм в час), которая обеспечивает эпитаксиальный рост пленок. Для достижения сопоставимого уровня примесей, как при других методах напыления, требуется пропорционально более высокий вакуум. Отсутствие газов-переносчиков, а также среда ультравысокого вакуума, обеспечивают максимально достижимую чистоту выращенных пленок. В MBE с твердыми источниками элементы, такие как галлий и мышьяк, в ультрачистом виде нагреваются в отдельных квази-эффузионных ячейках Кнудсена или испарителях электронного луча до начала медленного сублимирования. Газообразные элементы затем конденсируются на подложке, где могут вступать в реакцию друг с другом. В случае галлия и мышьяка образуется монокристаллический арсенид галлия. При использовании источников испарения, таких как медь или золото, газообразные элементы, попадающие на поверхность, могут адсорбироваться (после временного интервала, в течение которого атомы перемещаются по поверхности) или отражаться. Атомы на поверхности также могут десорбироваться. Контроль температуры источника регулирует скорость поступления материала на поверхность подложки, а температура подложки влияет на скорость перемещения или десорбции. Термин "луч" означает, что испаренные атомы не взаимодействуют друг с другом или с газами вакуумной камеры до достижения подложки благодаря большому среднему свободному пути атомов. В процессе работы часто используется дифракция рефлектированных электронов высокой энергии (RHEED) для контроля роста кристаллических слоев. Компьютер управляет затворами перед каждой печью, обеспечивая точный контроль толщины каждого слоя, вплоть до моноатомного слоя. Таким образом, можно создавать сложные структуры из слоев различных материалов. Такой контроль позволил разработать структуры, в которых электроны могут быть локализованы в пространстве, формируя квантовые ямы или даже квантовые точки. Эти слои являются критически важными компонентами многих современных полупроводниковых приборов, включая полупроводниковые лазеры и светодиоды. В системах, требующих охлаждения подложки, ультравысокий вакуум в камере роста поддерживается системой криопомп и криопанелей, охлаждаемых жидким азотом или холодным азотным газом до температуры, близкой к 77 кельвинам (−196 градусов Цельсия). Холодные поверхности служат ловушкой для примесей в вакууме, поэтому для напыления пленок в таких условиях требуются уровни вакуума на несколько порядков выше. В других системах подложки, на которых выращиваются кристаллы, могут быть установлены на вращающуюся платформу, которую можно нагревать до нескольких сотен градусов Цельсия в процессе работы. Эпитаксия молекулярного луча (MBE) также используется для напыления некоторых типов органических полупроводников. В этом случае испаряются и осаждаются на подложку молекулы, а не атомы. Другие варианты включают MBE с газовым источником, который напоминает химическое осаждение из паровой фазы. Системы MBE также могут быть модифицированы в соответствии с потребностями. Например, могут быть добавлены источники кислорода для напыления оксидных материалов для передовых электронных, магнитных и оптических применений, а также для фундаментальных исследований. Здесь молекулярный луч окислителя используется для достижения желаемой степени окисления многокомпонентного оксида.
Квантовые наноструктуры
Одним из наиболее значительных достижений молекулярно-лучевой эпитаксии является создание наноструктур, позволивших формировать атомно гладкие и резкие гетероинтерфейсы. Эти структуры сыграли беспрецедентную роль в углублении знаний в области физики и электроники. В последнее время были созданы нанопроволоки и квантовые структуры, встроенные в них, обеспечивающие обработку информации и потенциальную интеграцию с бортовыми приложениями для квантовой связи и вычислений. Создание таких гетероструктурных лазеров на нанопроволоках возможно только с использованием передовых методов молекулярно-лучевой эпитаксии, обеспечивающих монолитную интеграцию на кремнии и обработку сигналов с временным разрешением в пикосекунды.
Asaro Tiller Гринфельд нестабильность
Нестабильность Асаро–Тиллера–Гринфельда (ATG), также известная как нестабильность Гринфельда, — это эластическая нестабильность, часто возникающая при молекулярно-лучевой эпитаксии. Если существует рассогласование между размерами решеток растущей пленки и подложки, в растущей пленке накапливается упругая энергия. При достижении определенной критической толщины свободная энергия пленки может быть уменьшена, если пленка распадается на отдельные острова, где напряжение может быть снято за счет латерального расширения. Критическая толщина зависит от модуля Юнга, величины рассогласования и поверхностного натяжения. Исследованы некоторые области применения этой нестабильности, например, самосборка квантовых точек. В научном сообществе для обозначения ATG используется термин "рост Странского–Крастанова".