Введение

Свойства светочувствительных устройств

Термин «квантовая эффективность» (КЭ) может применяться к отношению числа падающих фотонов к числу преобразованных электронов (IPCE) в светочувствительном устройстве, либо относиться к туннельно-магниторезистивному (ТМР) эффекту в магнитном туннельном переходе. В данной статье термин рассматривается как мера электрической чувствительности устройства к свету. В приборе с зарядовой связью (ПЗС) или другом фотодетекторе, это отношение между количеством носителей заряда, собранных на любом из выводов, и количеством фотонов, достигающих фоточувствительной поверхности устройства. Как отношение, КЭ является безразмерной величиной, но тесно связана с фоточувствительностью, которая выражается в амперах на ватт. Поскольку энергия фотона обратно пропорциональна его длине волны, КЭ часто измеряется в диапазоне различных длин волн для характеристики эффективности устройства на каждом энергетическом уровне фотона. Для типичных полупроводниковых фотодетекторов КЭ падает до нуля для фотонов, энергия которых ниже ширины запрещенной зоны. Фотографическая пленка обычно имеет КЭ значительно меньше 10%, в то время как ПЗС могут иметь КЭ более 90% на определенных длинах волн.

КВ солнечных элементов

Квантовая эффективность солнечного элемента показывает, какой ток элемент будет генерировать при облучении фотонами определенной длины волны. Интегрируя квантовую эффективность по всему солнечному электромагнитному спектру, можно оценить ток, который элемент произведет при воздействии солнечного света. Отношение полученной выработки энергии к максимально возможной выработке энергии для элемента (то есть, если бы квантовая эффективность была 100% во всем спектре) определяет общую эффективность преобразования энергии элемента. Важно отметить, что в случае генерации множественных экситонов (MEG) квантовая эффективность может превышать 100%, поскольку энергия падающих фотонов более чем в два раза превышает ширину запрещенной зоны, и они способны создавать две или более электронно-дырочных пар на один падающий фотон.

Картографирование EQE

Обычное измерение КФП (EQE) дает эффективность всего устройства. Однако часто бывает полезно иметь карту КФП на большой площади устройства. Такое картирование обеспечивает эффективный способ визуализации однородности и/или дефектов в образце. Это было реализовано исследователями из Института исследований и разработок в области фотоэлектрической энергии (IRDEP), которые рассчитали карту КФП на основе измерений электролюминесценции, выполненных с помощью гиперспектрального визуализатора.