Введение

Коробка для транспортировки полупроводниковых пластин в собственной внутренней атмосфере.

SMIF (Standard Mechanical Interface) – это контейнер для пластин, используемый при производстве полупроводниковых пластин и в условиях чистых помещений. Технология изоляции была разработана в 1980-х годах группой, известной как "микронавты", в компании Hewlett Packard в Пало-Альто. Это стандарт SEMI.

Разработка

Команду разработчиков возглавлял Ульрих Кемпф на должности инженера-менеджера под руководством Михира Париха. Основной командой, разработавшей технологию, руководил Барклей Таллис, которому принадлежала большая часть патентов, вместе с Дэйвом Трэшером, который позже присоединился к Silicon Valley Group, и Томасом Атчисоном, сотрудником технического персонала, работавшим под руководством Барклея Таллиса. Позже Михир передал технологию SEMI, затем лицензировал копию для себя и основал Asyst Technologies для коммерческого распространения технологии. Технология Asyst впоследствии была приобретена компанией Brooks Automation и интегрирована в Versaport. Интерфейс остался прежним после приобретения.

Использование

Цель SMIF-контейнеров – изолировать пластины от загрязнений, обеспечивая миниатюрную среду с контролируемым потоком воздуха, давлением и концентрацией частиц. Доступ к SMIF-контейнерам осуществляется посредством автоматизированных механических интерфейсов на производственном оборудовании. Таким образом, пластины остаются в тщательно контролируемой среде, как внутри SMIF-контейнера, так и в оборудовании, не подвергаясь воздействию окружающего воздушного потока. Каждый SMIF-контейнер содержит кассету для пластин, в которой пластины хранятся горизонтально. Нижняя поверхность контейнера является открывающейся дверью, и при установке SMIF-контейнера на загрузочный порт, нижняя дверь и кассета опускаются внутрь оборудования для извлечения пластин. Как пластины, так и фотошаблоны могут обрабатываться SMIF-контейнерами в среде производства полупроводников. Используемые в литографическом оборудовании, фотошаблоны или фотомаски содержат изображение, которое экспонируется на покрытую пластину на одном из этапов обработки полного интегрированного цикла производства полупроводников. Поскольку фотошаблоны тесно связаны с обработкой пластин, они также требуют защиты от загрязнений или от того, чтобы стать источником загрязнений в литографическом оборудовании. SMIF обычно используется для пластин диаметром не более 200 мм. Эквивалентом для пластин диаметром 300 мм является FOUP (Front Opening Unified Pod). Большая гибкость 300-мм пластин делает невозможным использование технологии SMIF и соответствующих конструкций для 300-мм пластин, что и послужило причиной появления FOUP. Ряд стандартов FOUP SEMI, включая SEMI E47.1 1106, относится как к пластинам диаметром 300 мм, так и к 450 мм.