Кіріспе

Қалдық газ талдағышы (RGA) – кішкентай және көбінесе берік массалық спектрометр, әдетте вакуумдық жүйелердегі процестерді басқару және ластануды бақылау үшін қолданылады. Егер төртполюсті массалық анализатор ретінде құрастырылған болса, ашық иондық көзді (OIS) немесе жабық иондық көзді (CIS) пайдаланатын екі нұсқасы бар. RGA-ларды жоғары вакуум қолданыстарында, мысалы, зерттеу камераларында, беттік ғылым орналымдарында, үдеткіштерде, сканерлік микроскоптарда және т.б. кездестіруге болады. RGA көбінесе вакуумның сапасын бақылау және төмен қысымды газ ортасындағы минималды қоспаларды оңай анықтау үшін қолданылады. Бұл қоспаларды Torr деңгейіне дейін өлшеуге болады, ал фондық кедергілердің болмауы жағдайында ppm-нан да төмен деңгейде анықтауға мүмкіндік бар. RGA гелий, изопропил спирті немесе басқа да іздеу молекулаларын пайдаланатын сезімтал ин-ситу газ шығарғыш детекторы ретінде де қолданылады. Вакуумдық жүйелер Torr-дан төменгі деңгейге дейін сорғыланғанда, процесті бастамас бұрын вакуумдық тығыздардың қауіпсіздігін және вакуумның сапасын тексеруге болады, сондай-ақ төмен деңгейдегі ауаның кіруін, виртуалды ақауларды және басқа да ластаушы заттарды анықтауға болады.

Жабық ион көзі

Қысымды аралықта өлшеуді қажет ететін қолданбаларда OIS конфигурациясын CIS үлгі алу жүйесімен алмастыру арқылы қоршаған орта және процестік газдардың проблемасын едәуір азайтуға болады. Мұндай иондаушы төртполюсті массалық сүзгінің үстіне орналасады және электрондардың кіруі мен иондардың шығуы үшін екі тесігі бар қысқа, газ өткізбейтін түтікшеден тұрады. Иондар бір экстракциялық пластинкаға жақын пайда болады және иондаушыдан шығады. Электрлік оқшауланған алюминий сақиналары түтікшені және төртполюсті массалық құрастырманың қалған бөлігінен электродтарды оқшаулайды. Иондар тікелей процесс қысымында электронды соққы арқылы туындайды. Мұндай конструкция газ хроматографиялық массалық спектрометрия аспаптарында, төртполюсті газ анализаторларына бейімделуге дейін қолданылған. Көптеген коммерциялық CIS жүйелері аралықта жұмыс істейді және аралықтағы процесс қысымдары үшін массалық диапазонның барлық аймағында ppm деңгейін анықтау мүмкіндігін ұсынады. Жоғарғы шек ион-бейтарап соқтығысулар үшін орташа еркін жолдың қысқаруымен анықталады, бұл жоғары қысымда иондардың шашырауына және сезімталдықтың төмендеуіне әкеледі. CIS анодын тікелей процесс камерасына қосылған жоғары өткізгіштігі бар түтікше деп қарастыруға болады. Иондау аймағындағы қысым камераның қалған бөлігімен шамалас. Осылайша, CIS иондаушысы процесс қысымында тікелей электронды соққы арқылы иондарды жасайды, ал массалық анализатордың қалған бөлігі жоғары вакуумда сақталады. Мұндай тікелей үлгі алу жақсы сезімталдық пен жылдам жауап беру уақытын қамтамасыз етеді.