Введение
Новые фотолитографические технологии
Литография следующего поколения, или NGL, – это термин, используемый в производстве интегральных схем для описания технологий литографии, находящихся в разработке и предназначенных для замены существующих методов. Под влиянием закона Мура в полупроводниковой промышленности продолжается уменьшение размеров чипов и критических элементов. Термин применяется к любому методу литографии, использующему свет или пучок частиц с длиной волны меньше, чем у современных технологий, например, рентгеновскую литографию, литографию электронным лучом, литографию сфокусированным ионным лучом и наноимпринт-литографию. Этот термин также может применяться к технологиям, обеспечивающим более высокое разрешение при использовании существующей длины волны света. Многие технологии, ранее относимые к «следующему поколению», вышли в коммерческое производство. Фотолитография в воздушной среде с использованием видимого света, проецируемого через изготовленные вручную фотомаски, постепенно эволюционировала до глубокой УФ-литографии с коррекцией оптической близости, технологией обратной литографии, освещением вне оси, фазосдвигающими масками, двойным и многократным нанесением рисунка. В конце 2010-х годов комбинация этих методов позволила достичь элементов размером около 20 нм с использованием 193-нм лазера ArF в процессах 14 нм, 10 нм и 7 нм, хотя это потребовало дополнительных технологических операций и, следовательно, увеличило стоимость. Экстремальная ультрафиолетовая (EUV) литография с длиной волны 13,5 нм, долгое время считавшаяся основным кандидатом на литографию следующего поколения, начала массовое коммерческое производство в 2018 году. По состоянию на 2021 год компании Samsung и TSMC постепенно внедряли EUV-литографию в свои производственные линии, поскольку замена нескольких технологических этапов одним EUV-этапом стала экономически целесообразной. В начале 2020-х годов многие EUV-технологии все еще находятся в разработке, и предстоит решить множество задач, что позиционирует EUV-литографию как переходную от «следующего поколения» к «современному состоянию». Кандидатами на литографию следующего поколения после EUV являются рентгеновская литография, литография электронным лучом, литография сфокусированным ионным лучом, наноимпринт-литография и квантовая литография. Некоторые из этих технологий переживали периоды популярности, но уступали постоянному совершенствованию фотолитографии. Литография электронным лучом была наиболее популярна в 1970-х годах, но в 1980-х и начале 1990-х годов ее вытеснила рентгеновская литография, а затем, с середины 1990-х по середину 2000-х годов, – EUV-литография. Литография сфокусированным ионным лучом заняла свою нишу в области ремонта дефектов. Популярность наноимпринт-литографии растет, и она может стать наиболее популярным выбором для литографии следующего поколения благодаря своей внутренней простоте и низкой стоимости эксплуатации, а также успеху в секторах светодиодов, жестких дисков и микрофлюидики. Популярность каждого кандидата в NGL во многом зависела от его производительности и стоимости эксплуатации и внедрения. Литография электронным лучом и наноимпринт-литография в основном ограничены производительностью, в то время как EUV-литография и рентгеновская литография – затратами на внедрение и эксплуатацию. Проецирование заряженных частиц (ионов или электронов) через трафаретные маски также широко рассматривалось в начале 2000-х годов, но в конечном итоге столкнулось с низкой производительностью и трудностями реализации.
Проблемы
+Гипотетический сценарий NGL @ 5 нмУзелВедущий производитель чиповОтстающий производитель чиповБез измененийС NGL180 нмKrFKrF 130 нмKrFKrF90 нмArFArF65 нмArFArF45/40 нмArF-иммерсионная литографияArF-иммерсионная литографияArF-иммерсионная литография32/28 нмArF-иммерсионная литографияArF-иммерсионная литография22/20 нмArF-иммерсионная литография, двойное маскирование? Затраты на мультипаттернинг не учитываются16/14 нмArF-иммерсионная литография, двойное маскирование10 нмArF-иммерсионная литография, SADP/тройное маскирование7 нмArF-иммерсионная литография, SADP/SAQP5 нмSAQP + дополнительная литографияNGL Сложность дальнейшего развития оптической литографии была главным аргументом в пользу NGL. Однако ведущий производитель чипов получит значительно меньше выгоды, чем отстающий, из-за огромных дополнительных инвестиций, уже вложенных в развитие оптической литографии до ее текущего уровня. В этом гипотетическом сценарии внедрение NGL позволило бы некоторым производителям микросхем пропустить несколько поколений литографии. Таблица основана на: Файл:Прогресс узлов.png (2016, User:Guiding Light) (CCA SA 3.0 не портирована)
Основные вопросы
Независимо от того, используется ли НГЛ или фотолитография, травление полимера (резиста) является заключительным этапом. В конечном счете, качество (шероховатость), а также разрешение этого травления полимера ограничивают присущее разрешение используемой литографической технологии. Литография следующего поколения также обычно использует ионизирующее излучение, что приводит к образованию вторичных электронов, которые могут ограничить разрешение, эффективно, до > 20 нм. Исследования также показали, что для того, чтобы НГЛ достигла целевых показателей LER (шероховатости края линии), необходимо найти способы контроля таких параметров, как размер полимера, контраст изображения и контраст резиста.
Рыночные вопросы
Вышеупомянутая конкуренция между NGL и последовательным развитием фотолитографии, в которой последняя неизменно побеждает, может быть скорее стратегической, чем технической проблемой. Если бы высокомасштабируемая технология NGL стала легкодоступной, компании, поздно внедряющие передовые технологии, сразу получили бы возможность обойти текущее использование сложных, но дорогостоящих методов фотолитографии, за счет компаний, которые первыми инвестировали в NGL. Хотя это выровняло бы условия конкуренции, это настолько существенно меняет отраслевой ландшафт, что ведущие полупроводниковые компании, вероятно, не захотят этого допустить. Следующий пример прояснит ситуацию. Предположим, компания А производит компоненты с нормой 28 нм, а компания B – с нормой 7 нм, расширяя возможности фотолитографии за счет использования двойного рисунка. Если бы NGL была внедрена для 5-нм техпроцесса, обе компании выиграли бы, но компания А, в настоящее время производящая с нормой 28 нм, выиграла бы больше, поскольку смогла бы сразу использовать NGL для производства компонентов с нормами от 22 нм до 7 нм (пропуская все упомянутые методы многократного рисунка), в то время как компания B выиграла бы только начиная с 5-нм техпроцесса, уже потратив значительные средства на расширение фотолитографии с 22 нм до 7 нм. Разрыв между компанией B, клиенты которой ожидают от нее продвижения передовых технологий, и компанией А, клиенты которой не ожидают столь же агрессивной дорожной карты, будет продолжать увеличиваться по мере задержки внедрения NGL и дальнейшего развития фотолитографии с растущими затратами, что делает внедрение NGL все менее стратегически привлекательным для компании B. С внедрением NGL клиенты также смогут требовать снижения цен на продукцию, изготовленную по передовым технологиям. Это становится особенно очевидным, если учитывать, что каждая техника повышения разрешения, применяемая к фотолитографии, обычно увеличивает ее возможности лишь на одно-два поколения. По этой причине наблюдение о том, что "оптическая литография будет жить вечно", вероятно, окажется верным, поскольку компании, первыми внедряющие передовые технологии, никогда не смогут воспользоваться преимуществами высокомасштабируемых литографических технологий в конкурентной среде. Поэтому существует значительное давление для скорейшего внедрения NGL, но в конечном итоге NGL может быть реализована в виде фотолитографии с более эффективными методами многократного рисунка, такими как направленная самосборка или агрессивное уменьшение разреза.