Введение
Химическое соединение
chembox
| Watchedfields = changed
| verifiedrevid = 418837342
| ImageFile = Zinc selenide unit cell 3D balls.png
| ImageName = Элементарная ячейка кристалла теллурида цинка. | ImageFile2 = Zinc telluride.jpg
| IUPACName =
| OtherNames =
|Section1=
|Section2=Свойства Chembox
| Formula = ZnTe
| MolarMass = 192,99 г/моль
| Appearance = красные кристаллы
| Density = 6,34 г/см³
| ThermalConductivity = 108 мВт/(см·К)]]
ZnTe выглядит как серый или коричневато-красный порошок, или рубиново-красные кристаллы после очистки сублимацией. Теллурид цинка обычно имеет кубическую (сфалеритную, или "цинкблендовую") кристаллическую структуру, но также может быть получен в виде кристаллов каменной соли или в гексагональных кристаллах (структура вуртцита). При облучении сильным оптическим лучом горит в присутствии кислорода. Его постоянная решетки составляет 0,6101 нм, что позволяет выращивать его совместно с антимонидом алюминия, антимонидом галлия, арсенидом индия и селенидом свинца. При некотором несоответствии параметров решетки его также можно выращивать на других подложках, таких как GaAs, и в виде тонкопленочных поликристаллических (или нанокристаллических) пленок на подложках, таких как стекло, например, при производстве тонкопленочных солнечных элементов. В гексагональной (вуртцитной) кристаллической структуре параметры решетки составляют a = 0,427 и c = 0,699 нм.
chembox
| Watchedfields = changed
| verifiedrevid = 418837342
| ImageFile = Zinc selenide unit cell 3D balls. png
| ImageName = The unit cell of a zinc telluride crystal. | ImageFile2 = Zinc telluride. jpg
| IUPACName =
| OtherNames =
|Section1=
|Section2=Chembox Properties
| Formula = ZnTe
| MolarMass = 192.99 g/mol
| Appearance = red crystals
| Density = 6.34 g/cm3
| ThermalConductivity = 108 mW/(cm·K)]]
ZnTe has the appearance of grey or brownish red powder, or ruby red crystals when refined by sublimation. Zinc telluride typically has a cubic (sphalerite, or "zincblende") crystal structure, but can be also prepared as rocksalt crystals or in hexagonal crystals (wurtzite structure). Irradiated by a strong optical beam burns in presence of oxygen. Its lattice constant is 0.6101 nm, allowing it to be grown with or on aluminium antimonide, gallium antimonide, indium arsenide, and lead selenide. With some lattice mismatch, it can also be grown on other substrates such as GaAs, and it can be grown in thin film polycrystalline (or nanocrystalline) form on substrates such as glass, for example, in the manufacture of thin film solar cells. In the wurtzite (hexagonal) crystal structure, it has lattice parameters a = 0.427 and c = 0.699 nm.
Оптоэлектроника
Теллурид цинка легко легируется, и по этой причине является одним из наиболее распространенных полупроводниковых материалов, используемых в оптоэлектронике. ZnTe важен для разработки различных полупроводниковых приборов, включая синие светодиоды, лазерные диоды, солнечные элементы и компоненты микроволновых генераторов. Его можно использовать в солнечных элементах, например, в качестве заднего поверхностного поля и p-типа полупроводникового материала для структуры CdTe/ZnTe или в PIN-диодных структурах. Материал также может использоваться как компонент тройных полупроводниковых соединений, таких как CdxZn(1-x)Te (по сути, смесь, состоящая из крайних компонентов ZnTe и CdTe), которые могут быть изготовлены с различным составом x для настройки ширины запрещенной зоны в соответствии с требованиями.
Нелинейная оптика
Теллурид цинка вместе с ниобатом лития часто используется для генерации импульсного терагерцового излучения в терагерцовой спектроскопии во временной области и терагерцовой визуализации. При воздействии на кристалл такого материала высокоинтенсивного светового импульса субпикосекундной длительности, он излучает импульс терагерцовой частоты посредством нелинейного оптического процесса, называемого оптической ректификацией. И наоборот, воздействие терагерцового излучения на кристалл теллурида цинка вызывает оптическое двойное лучепреломление и изменение поляризации проходящего света, что делает его электрооптическим детектором. Теллурид цинка, легированный ванадием, "ZnTe:V", является нелинейным оптическим фоторефракционным материалом, потенциально применимым для защиты датчиков в видимом диапазоне длин волн. Оптические ограничители на основе ZnTe:V легки и компактны, не требуют сложной оптики, характерной для традиционных ограничителей. ZnTe:V способен блокировать высокоинтенсивный подавляющий луч от лазерного ослепителя, одновременно пропуская изображение наблюдаемой сцены с меньшей интенсивностью. Он также может быть использован в голографической интерферометрии, в реконфигурируемых оптических соединениях и в устройствах лазерной оптической фазовой конъюгации. Он демонстрирует превосходные фоторефрактивные характеристики в диапазоне длин волн от 600 до 1300 нм по сравнению с другими полупроводниковыми соединениями групп III-V и II-VI. Добавление марганца в качестве дополнительного легирующего элемента (ZnTe:V:Mn) позволяет значительно повысить его фоторефрактивную эффективность.