Введение

Ван-Хоувская сингулярность — это сингулярность (точка негладкости) в плотности состояний (DOS) кристаллического твердого тела. Волновые векторы, при которых возникают ван-Хоувские сингулярности, часто называют критическими точками зоны Бриллюэна. Для трехмерных кристаллов они проявляются в виде точек перегиба (где плотность состояний не дифференцируема). Наиболее распространенное применение концепции ван-Хоувской сингулярности — анализ спектров оптического поглощения. Впервые возникновение таких сингулярностей было проанализировано бельгийским физиком Леоном Ван Хоувом в 1953 году на примере плотности состояний фононов.

Экспериментальное наблюдение

Спектр оптического поглощения твердого тела наиболее просто вычисляется из электронной структуры зон с использованием золотого правила Ферми, где соответствующим матричным элементом, который необходимо оценить, является дипольный оператор, где – векторный потенциал, а – оператор импульса. Плотность состояний, входящая в выражение золотого правила Ферми, является совместной плотностью состояний, представляющей собой число электронных состояний в зонах проводимости и валентности, разделенных заданной энергией фотона. Оптическое поглощение, таким образом, является произведением матричного элемента дипольного оператора (также известного как сила осциллятора) и совместной плотности состояний (JDOS). Расходимости в двумерной и одномерной плотности состояний могли бы показаться математической формальностью, но на самом деле они легко наблюдаются. Высокоанизотропные материалы, такие как графит (квази-двумерный) и соли Бехгарда (квази-одномерные), демонстрируют аномалии в спектроскопических измерениях, обусловленные сингулярностями Ван-Хоува. Сингулярности Ван-Хоува играют важную роль в понимании оптических интенсивностей в одностенных углеродных нанотрубках (SWNT), которые также являются квази-одномерными системами. Точка Дирака в графене является сингулярностью Ван-Хоува, которую можно непосредственно наблюдать как пик электрического сопротивления при нейтральном заряде графена. Скрученные слои графена также проявляют выраженные сингулярности Ван-Хоува в плотности состояний из-за межслойного взаимодействия.