Введение

Тип точечного дефекта в кристаллической решетке

Дефект Шотки – это возбуждение занятости узлов в кристаллической решетке, приводящее к точечным дефектам, названным в честь Уолтера Х. Шотки. В ионных кристаллах этот дефект формируется, когда ионы с противоположными зарядами покидают свои узлы решетки и внедряются, например, на поверхность, создавая вакансии с противоположными зарядами. Эти вакансии образуются в стехиометрических соотношениях, чтобы сохранить общий нейтральный заряд в ионном твердом теле.

Определение

Дефекты Шотки состоят из вакантных позиций анионов и катионов в стехиометрическом соотношении. Для простого ионного кристалла типа A−B+ дефект Шотки состоит из одной вакансии аниона (A) и одной вакансии катиона (B), или v + v в соответствии с нотацией Крёгера-Винка. Для более общего кристалла с формулой AxBy кластер Шотки формируется из x вакансий A и y вакансий B, таким образом, общая стехиометрия и электронейтральность сохраняются. Концептуально, дефект Шотки возникает, если кристалл расширяется на одну элементарную ячейку, при этом ранее пустые позиции заполняются атомами, диффундировавшими из объема кристалла, что приводит к образованию вакансий. Дефекты Шотки наиболее часто наблюдаются в материалах, где разница в размерах между катионами и анионами невелика.

Смешанные и разбавленные дефекты

Пустоты, составляющие дефекты Шоттки, имеют противоположные заряды, поэтому они испытывают взаимно притягивающую силу Кулона. При низкой температуре они могут образовывать связанные кластеры. Влияние дефекта Шоттки на кристаллическую решетку зависит от температуры, при которой при более высоких температурах вокруг вакансии катиона можно также наблюдать множественные вакансии анионов. Если вакансии анионов расположены вблизи вакансии катиона, это затрудняет перемещение катионов. Связанные кластеры обычно менее подвижны, чем отдельные дефекты, поскольку для миграции всего кластера необходимо согласованное движение нескольких частиц. Это имеет важное значение для широкого спектра функциональных керамических материалов, используемых в различных областях, включая ионные проводники, твердооксидные топливные элементы и ядерное топливо.

Примеры

Этот тип дефекта обычно наблюдается в соединениях с высокой степенью ионности, в комплексах с высокой координацией, а также в случаях, когда разница в размерах катионов и анионов, составляющих кристаллическую решетку, незначительна. Типичными солями, в которых наблюдается дефект Шоттки, являются NaCl, KCl, KBr, CsCl и AgBr. Для инженерных приложений дефекты Шоттки важны в оксидах с фторитной структурой, таких как CeO2, кубический ZrO2, UO2, ThO2 и PuO2.

Влияние на плотность

Как правило, объем образования вакансии положителен: сжатие решетки, вызванное напряжениями вокруг дефекта, не компенсирует расширение кристалла, обусловленное увеличением числа узлов. Следовательно, плотность твердого кристалла ниже теоретической плотности материала.