Рентгендік технология
-
Кристалл құрылымын және минералдарды анықтау әдісі
Рентгендік кристаллография: минералдар мен материалдардың атомдық құрылымын анықтау. ДНҚ, дәрілер, белоктар құрылысын зерттеуге көмектеседі. 🔬✨
-
Рентген сәулелері: қасиеттері мен қолданылуы
Рентген сәулелері: ашылу тарихы, қасиеттері, толқын ұзындығы, энергиясы. Медицинадағы қолданысы және ғылыми зерттеулердегі маңызы туралы біліңіз.
-
Рентгендік астрономия
Рентген астрономиясы: ғарыш объектілерінен келетін рентген сәулелерін зерттейді. Жоғары температурадағы газ, спутниктер арқылы байқау. 🔭✨
-
Рентгенді фотоэлектронды спектроскопия: Материалдарды зерттеу әдісі
Рентген фотоэлектрондық спектроскопия (XPS) – материалдардың элементтік құрамын, химиялық күйін анықтайтын, беттік талдауға арналған құрал. Зерттеулерге қолданылады.
-
Жоғары энергиялы сәулелермен шарықталған материалдардан туындаған екіншілік рентген сәулелерінің шығарылуы
Рентгендік флуоресценция: Материалдарды жоғары энергиялы сәулелермен талдау, элементтік құрамын анықтау. Металдар, керамика, археологияда қолданылады.
-
Рентгендік сәулелендіру арқылы кристаллик құрылымды зерттеу
Рентгендік кристаллографияда кең бұрышты шағылысу (WAXS) – наноөлшемді құрылымдарды анықтауға арналған әдіс. Кристалдық материалдарды зерттеуге көмектеседі.
-
Рентгендік шағылысу әдістері және материалдарды зерттеу
Рентгенді шағылысу әдістері – материалдардың құрылымын, химиялық құрамын және физикалық қасиеттерін зерттейтін бұйырмас талдау тәсілі.🔬✨
-
Бөлшектермен индукцияланған сәулелік эмиссия: Материалдарды құрамы бойынша бұзбай зерттеу әдісі
PIXE талдау әдісі: Материалдардың элементтік құрамын бұзбастан анықтау. Геологтар, археологтар және өнер сақтаушылар қолданады. Тегін анықтауға көмектеседі.
-
Фотоэлектронды спектроскопия: Материалдарды электрондық эмиссия арқылы зерттеу
Фотоэлектронды спектроскопия (PES): заттардың электрондық құрамын зерттеу, байланыс энергиясын анықтау. XPS, ESCA әдістерімен талдау, беттік анализ жасау.
-
Рентгендік микроскоптар және олардың қолданылуы
Рентген микроскопы: бейнелеу үшін сәулеленуді пайдаланады, сынаманы дайындау қажет емес. Көміртек пен оттектің сіңіру айырмашылығы негізінде жұмыс істейді.
-
Рентген түтігі: Құрылысы, қағидалары және қолданылуы
Рентген түтігі: Электр қуатын рентген сәулесіне айналдырады. Радиография, КТ сканері, материалдарды талдау және өнеркәсіптік тексеруде қолданылады.
-
Рентгендік сәулелену арқылы материалдарды сипаттау техникасы
Рентгендік спектроскопия: Материалдарды рентген сәулесімен талдау, элементтік құрамын анықтау және сапалық/сандық нәтижелер алу туралы мағлұмат.
-
Рентгендік сіңіру спектроскопиясындағы құрылымдық ерекшеліктер
Рентгендік сіңіру спектроскопиясы (XAFS) – материалдардың атомдық құрылымын, электрондық күйін зерттеуге арналған әдіс. XAFS талдауымен құрылымдық ақпарат алуға болады.
-
Материалдың энергияға тәуелді Х-сәулесін жұтуын өлшеу
Рентгендік сіңіру спектроскопиясы (XAS), EXAFS, XANES туралы. Материалдың энергияға тәуелді рентген сәулесін сіңіру қасиеттерін зерттеу, абсорбция шетін анықтау.
-
Халықаралық Х-сәуле обсерваториясы: Ғарыштық телескоп жобасының дамуы
Халықаралық X-ray обсерваториясы: қара құрдымдар, галактикалар және ғарыштық материяны зерттеуге арналған жоба. Жоғары ажыратымдылық, спектроскопия, жаңа технологиялар.
-
X-ray image intensifier
-
Рентгендік көлденең шағылысу: беттерді, қабықшаларды және көп қабатты құрылымдарды зерттеу әдісі
Рентгендік рефлектометрия – беттерді, жұқа пленкаларды және көп қабатты құрылымдарды зерттейтін әдіс. Бұл химия, физика және материалтануда қолданылады.
-
Наноскейпті зерттеу үшін жоғары ажыратымдылықтағы рентгендік зонд
Аргонн ұлттық зертханасы нанобөлшектерді зерттеу үшін әлемдегі ең жоғары ажыратымдылыққа ие рентген микроскопын ұсынады. Наноматериалдарды талдауға көмектеседі.
-
Кристаллды кесудің сәулелік шағылысуы: беттік құрылымды зерттеу әдісі
Рентгендік кристалдық үзілім шашырауы – кристалл бетін зерттеу әдісі. Бұл әдіс беттік құрылымды, тотығуды, эпитаксиялық өсуді және адсорбцияны анықтауға көмектеседі.
-
Рентгендік телескоптар және олардың даму тарихы
Рентген телескоптары: алыс объектілерді зерттеу, рентген сәулелерін анықтау, құрылымы, технологиялары. Астрономиялық зерттеулерге арналған маңызды құрал.
-
Жоғары Энергиялы Рентген Сәулелері: Қолданылу Аясы мен Артықшылықтары
Жоғары энергиялы Х-сәулелері (HEX-сәулелер) физика, материалтану және онкологияда қолданылады. Қалың үлгілерді зерттеуге, ісіктерді жоюға мүмкіндік береді.
-
Электронды спектроскопия: Химиялық талдау әдістері
Электронды спектроскопия: ХПС, ФЭС, АЭС, ФЭСЖ – сынама бетінің элементтік құрамын, химиялық күйін анықтауға арналған талдау әдісі. Материалдарды зерттеу!
-
Рентгендік оптика: Принциптер мен қолданылуы
Рентгендік оптика – бұл рентген сәулелерін басқару ғылымы. Дифракция, кристаллография, микроскопия сияқты зерттеулерде қолданылады. Рентген сәулелерінің ерекшеліктері жайында.
-
Soft X-ray microscopy
-
X-ray absorption near edge structure
-
XEUS