Темы

Рентгеновская технология

X-ray technology · 26 статей

  1. Рентгеноструктурный анализ: методы и применение

    Рентгеноструктурный анализ: определение структуры кристаллов и минералов методом дифракции X-лучей. Важен в химии, биологии, материаловедении и изучении ДНК.

    #8143 · 16 мин чтения

  2. Рентгеновское излучение: свойства, открытие и применение.

    Рентгеновские лучи: что это такое? Изучаем свойства, длину волны и энергию электромагнитного излучения, открытого В.К. Рентгеном в 1895 году.

    #8154 · 30 мин чтения

  3. Рентгеновская астрономия

    Рентгеновская астрономия: изучение космических объектов в рентгеновском диапазоне. Наблюдения с помощью космических телескопов, высокая температура газов.

    #10336 · 21 мин чтения

  4. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия: принципы и применение.

    Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS): анализ элементного состава и химического состояния поверхности материалов. Мощный метод для изучения материалов!

    #16340 · 16 мин чтения

  5. Эмиссия вторичных рентгеновских лучей при облучении высокоэнергетическим излучением

    Рентгенофлуоресцентный анализ (XRF): принцип, применение для элементного и химического анализа металлов, стекла, керамики и в науке о материалах.

    #16532 · 14 мин чтения

  6. Рентгеновская дифракция широких углов: анализ структуры материалов

    Рентгеновская дифракция (WAXS/WAXD): анализ структуры кристаллических материалов, определение размеров субнанометровых структур. Применение в полимерах.

    #22610 · 2 мин чтения

  7. Рентгеновское рассеяние: методы исследования структуры и свойств материалов.

    Рентгеновское рассеяние: неразрушающий анализ структуры, состава и свойств материалов и плёнок. Включает дифракцию и применяется в кристаллографии.

    #49062 · 2 мин чтения

  8. Протонно-рентгеновская эмиссионная спектроскопия: неразрушающий элементный анализ.

    PIXE: неразрушающий метод элементного анализа. Определение состава материалов с помощью ионных пучков. Применяется в геологии, археологии и реставрации.

    #72752 · 4 мин чтения

  9. Фотоэлектронная спектроскопия: методы и применение.

    Фотоэлектронная спектроскопия (ФЭС/XPS): анализ веществ по энергии испускаемых электронов. Определение химического состава и структуры материалов.

    #129649 · 3 мин чтения

  10. Рентгеновская микроскопия: принципы и развитие

    Рентгеновский микроскоп: принцип работы, применение для получения изображений без подготовки образца. Контрастная визуализация на основе поглощения рентгена.

    #157929 · 7 мин чтения

  11. Рентгеновская трубка: принцип работы, эволюция и применение.

    Рентгеновская трубка: принцип работы, применение в радиографии, КТ, сканерах и анализе материалов. Высокопроизводительные модели для медицины.

    #158354 · 9 мин чтения

  12. Рентгеновская спектроскопия: методы и применение анализа материалов

    Рентгеновская спектроскопия: анализ элементного состава материалов с помощью рентгеновского излучения. Качественный и количественный анализ, принцип работы.

    #176707 · 11 мин чтения

  13. Структура в спектрах поглощения рентгеновского излучения: от края поглощения до XANES области.

    Структура в спектроскопии поглощения рентгеновского излучения (XAFS): анализ локальной структуры, электронных состояний и резонансов Фано.

    #179366 · 4 мин чтения

  14. Измерение поглощения рентгеновского излучения в зависимости от энергии.

    Спектроскопия поглощения рентгеновского излучения (XAS): EXAFS и XANES. Измерение коэффициента поглощения в зависимости от энергии, анализ структуры материалов.

    #193550 · 4 мин чтения

  15. Обсерватория рентгеновского диапазона Constellation-X: от концепции к международному проекту IXO

    Рентгеновская обсерватория Con X: проект NASA/ESA/JAXA для изучения чёрных дыр, межгалактической среды и скоплений галактик с беспрецедентным разрешением.

    #226029 · 2 мин чтения

  16. X-ray image intensifier

    #314646 · 4 мин чтения

  17. Рентгеновская отражательная способность: принципы и программное обеспечение.

    Рентгеновская отражательная способность (XRR): неразрушающий анализ поверхностей, тонких пленок и многослойных структур. Определение плотности и шероховатости.

    #391575 · 2 мин чтения

  18. Рентгеновская нанопроба с разрешением 30 нм для исследования наноматериалов

    Рентгеновская нанопроба CNM Argonne: микроскопия с разрешением 30 нм для изучения наноматериалов. Флуоресценция, дифракция, трансляция – уникальный инструмент для нанонауки!

    #391654 · 3 мин чтения

  19. Рентгеновская дифракция усеченных кристаллов: структура и методы исследования поверхностей.

    Рентгеновское рассеяние усеченных кристаллов (CTR) – мощный метод изучения структуры поверхностей кристаллов, оксидации и адсорбции. Требует синхротронного излучения.

    #392968 · 3 мин чтения

  20. Рентгеновские телескопы: от Солнца к тайнам Вселенной

    Рентгеновские телескопы (XRT): принцип работы, устройство и применение для наблюдения удалённых объектов в рентгеновском спектре. Космос и астрономия.

    #407318 · 9 мин чтения

  21. Высокоэнергетические рентгеновские лучи: применение и возможности исследования

    Высокоэнергетические рентгеновские лучи (HEX): применение в физике, материаловедении и онкотерапии. Глубокое проникновение, исследование толстых образцов.

    #421390 · 3 мин чтения

  22. Электронная спектроскопия: методы анализа поверхности и химического состава

    Электронная спектроскопия: XPS, UPS, AES и другие методы анализа элементного состава и электронной структуры поверхностей твердых тел, газов и жидкостей.

    #429872 · 2 мин чтения

  23. Рентгеновская оптика: методы фокусировки и манипулирования рентгеновскими лучами

    Рентгеновская оптика: фокусировка и манипулирование рентгеновскими лучами для дифракции, кристаллографии и микроскопии. Особенности и методы работы с рентгеном.

    #432939 · 7 мин чтения

  24. Soft X-ray microscopy

    #459125 · 5 мин чтения

  25. X-ray absorption near edge structure

    #463367 · 7 мин чтения

  26. XEUS

    #501561 · 1 мин чтения